SEMICON CHINA

时间:

2018年/3月/14---16日

地点:

上海新国际博览中心

上海市浦东新区龙阳路 2345 号

展位:

N2685

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拍一拍
LEI 1510M40

1.1 非接触非损伤方块电阻测量仪(LEI 1510M40)

LEI 1510M40

1.1 非接触非损伤方块电阻测量仪(LEI88)

1.1 非接触非损伤方块电阻测量仪(LEI 1510E)

LEI 1510ERP

1.1 非接触非损伤方块电阻测量仪(LEI 1510ERP)

LEI 1510ERS

1.1 非接触非损伤方块电阻测量仪(LEI 1510ERS)

LEI 1800LS

1.1 非接触非损伤方块电阻测量仪(LEI 1800LS)

LEI 1800AG

1.1 非接触非损伤方块电阻测量仪(LEI 1800AG)

非接触迁移率测量系统

1.2 非接触迁移率测量系统

非接触迁移率测量系统

1.2 非接触迁移率测量系统

LEI 2017

1.3 汞探针及载流子浓度分布测量仪(LEI 2017)

汞探针电容/电流-电压(C-V,I-V)分析仪

1.4 汞探针电容/电流-电压分析仪

汞探针电容/电流-电压(C-V,I-V)分析仪

1.4 汞探针电容/电流-电压分析仪

汞探针电容/电流-电压分析仪

1.4 汞探针电容/电流-电压分析仪

四探针方块电阻测量仪

1.5 四探针方块电阻测量仪

四探针方块电阻测量仪

1.5 四探针方块电阻测量仪

四探针方块电阻测量仪

1.5 四探针方块电阻测量仪

光学线宽测量

1.6 光学线宽测量

椭偏谱仪

1.7 椭偏谱仪

膜厚仪

1.8 膜厚仪

PlasCal-2000

1.9 PlasCal-2000

自动/半自动探针台/晶体管测试台

1.10 自动/半自动探针台/晶体管测试台

自动/半自动LED测试系统

1.11 自动/半自动LED测试系统

多功能HAWK-1000拉力、剪切力测试仪

1.12 多功能HAWK-1000拉力、剪切力测试仪

手持笔形HAWK-100拉力、剪切力测试仪

1.13 手持笔形HAWK-100拉力、剪切力测试仪

PIND颗粒碰撞噪声测试仪 (SD 4511)

1.14 PIND颗粒碰撞噪声测试仪 (SD 4511)

薄膜应力&晶圆弯曲(翘曲)测试系统

1.15 薄膜应力&晶圆弯曲(翘曲)测试系统

M-2000

1.16 椭偏谱仪、光谱椭偏仪镀台(M-2000)

Alpha-SE

1.6 椭偏谱仪、光谱椭偏仪镀台(Alpha-SE)

VASE

1.16 椭偏谱仪、光谱椭偏仪镀台(VASE)

IR-VASE

1.16 椭偏谱仪、光谱椭偏仪镀台(IR-VASE)

VUV-VASE

1.16 椭偏谱仪、光谱椭偏仪镀台(VUV-VASE)

T-Solar

1.16 椭偏谱仪、光谱椭偏仪镀台(T-Solar)

NanoMap-D 双模式三维表面轮廓仪

1.17 NanoMap-D 双模式三维表面轮廓仪

探针式三维轮廓仪(

1.17 探针式三维轮廓仪

三维白光干涉仪(轮廓仪)

1.17 三维白光干涉仪(轮廓仪)

XRF薄膜组分、厚度分析系统

1.18 XRF薄膜组分、厚度分析系统

表面接触角测量仪

1.19 表面接触角测量仪

化学清洗工作台/电镀台

2.1 化学清洗工作台/电镀台

金刚刀解理划片机

2.2 金刚刀解理划片机

晶园扩张器

2.3 晶园扩张器

球形、楔形键合台

2.4 HB05 (Medium)

球形、楔形键合台

2.4 HB16

球形、楔形键合台

2.4 HB30

AS-Micro

2.5 RTP RTCVD(AS-Micro)

AS-One

2.5 RTP RTCVD(AS-One)

AS-Master

2.5 RTP RTCVD(AS-Master)

高效涂胶显影一体机

2.6 高效涂胶显影一体机

铜凸点金属膜显影机

2.7 铜凸点金属膜显影机

高性价比涂胶显影一体机

2.8 高性价比涂胶显影一体机

涂胶显影簇群系统

2.9 涂胶显影簇群系统

P7000 高效合金炉

2.10 P7000 高效合金炉

RV129手动划片、裂片器

2.11 RV129手动划片、裂片器

MOCVD 化学气相淀积系统

2.12 MOCVD 化学气相淀积系统

SprayCVD 050

2.13 Spray CVD 化学气相淀积系统

LPCVD 低压化学气相淀积系统

2.14 LPCVD 低压化学气相淀积系统

BenchMark 800 RIE & PECVD

2.15 BenchMark 800 RIE & PECVD

PlasmaStar RIE & PECVD

2.16 PlasmaStar RIE & PECVD

PlasmaStar

2.17 MultiMode HF-8 RIE及清洁系统

SCI等离子体清洁系统

2.18 等离子体清洁系统(SCI)

变温微探针台

3.1 变温微探针台

变温霍尔(Hall)测量系统

3.2 变温霍尔(Hall)测量系统

变温热电效应(Seebeck Effect)测量系统

3.3 变温热电效应(Seebeck Effect)测量系统

K-77简易温控器

3.4 K-77简易温控器

U-系列样品架

3.4 U-系列样品架

X-射线衍射样品室

3.4 X-射线衍射样品室

粘片膜

3.5 粘片膜

粘片机

3.5 粘片机

晶圆切割润滑剂

3.6 晶圆切割润滑剂

直流/脉冲电源

3.8 直流/脉冲电源

电源控制软件

3.8 电源控制软件